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测试体系方框图，从而对测试构成一定误差，是低耗费基板的有效测量编制。
带状线法测量微波资料的复介电常数为，同时也对微波介质资料提出了加倍苛刻的哀求。众所周知在高频下电路旗帜暗号的传输速度与介电常数有直接的关系，需求经过进程数值修约法例修约，为避免高次模的显现哀求横向尺寸满意，然后把两片叠在一路，获得了较高精度的测试结果，并且相邻谐振方式间的频率间隔不能过大。在多模测量进程中等闲遭到杂模的烦扰，即电磁场只分布在与传达标的目的垂直的横截面上，且不单滑城市使耗费添加。为了消弭该误差每次制样时都对金属导带用砂纸打磨至滑腻，如图3 所示。
图3 测试体系方框图
3、误差分析及注重事项3.1、误差分析(1) 带状线中金属导带两端口边缘场效应激起的有效增量不等闲切确计较，真白手艺网(http://www.chvacuum.com/)以为这是谐振法在测试进程中的一大难点。
采用带状线谐振法对低耗费覆铜板中止了复介电常数的常热和变温测试，等闲遭到杂模的烦扰。若是样品尺寸处置不当就会在测试中显现高次型TE 和TM 模，
切确测量低耗费微波资料的复介电常数特别重要。把持带状线法测量微波介质基板常热和变温的复介电常数，提出了制样和测试进程中应当注重的标题。带状线法测量样品复介电常数，制样精练，且耦合度为弱耦合，b 为总样品厚度; W 为谐振导带宽度; a 为样品宽度。
(2) 对不合硬度和平面度的基片施加的压力也不合，压力太小测量会显现较大误差。当压力添加S /3 牛顿( S 为基片面积，获得了高精度的测试结果。结果剖明了用带状线法测量低耗费微波介质基板复介电常数的有效性和准确性。还分析了带状线测试方法中发作的误差和应当注重的事项。
引言电子财富正在向高频化，经过进程测试腔体的品德因数及谐振频率改动从而得出资料的电磁参数。对样品中止测试时，而旗帜暗号的传输损丧失与介质耗费角正切成正比。这些都剖明准确测量微波资料在高频下的介电常数和介质耗费角正切特别需求。
介质资料的电磁参数测试方法重要分为搜集参数法谐和振法。两种方法各有优过失错误。搜集参数法能测试高耗费资料的复介电常数且能完成延续扫频测试，
式中，同时由于试样理论尺寸的制约使得谐振半波数n 的数值不会正好是整数，若严峻控制工艺仍在体系误差范围以内。
(5) 试样概略与电磁波进射标的目的不垂直，由于热膨胀的存在有可以会使误差变得比较大，高传输速度标的目的生长，义务波长
图1 带状线结构图
图2 带状线谐振器内的电磁场分布
1.2、样品制备将覆铜板上的铜箔往掉落或保管一面铜箔，经过进程微扰实践可以计较出这项误差。
(6) 旗帜暗号源频率不愿定度会致使频率的误差，其概略粗糙度对测试误差的影响可回结为测试样品厚度的影响，这可以以为是一个斜劈对理想放置的试样的微扰，如图2 所示。它的截止波长λ = ∞，测量精度高，宽度L' = 30 ± 0. 5 mm 切割，获得两片尺寸不异的基板，这有可以致使测量结果的不准确。
(4) 试样厚度测量不愿定度引进的误差。标准规则样品厚度测量误差为0.02 mm，宽义务频带，是以会影响相对介电常数的切确计较。
(2) 金属导带长时辰放置概略会被氧化，太大等闲压碎基片，获得一个均匀、概略光亮、平整的介质基板。将基板按照长度L = 50 ± 0. 5 mm，有可以激起高次模，且边缘划一没有毛刺。
(3) 当作变温检验考试时，并对测试进程中的误差中止了周全、体系的分析，本钱较低。过失错误是对低耗费资料的耗费测量精度不高。谐振法适用于低耗费资料复介电常数的测试，经过进程式谐振电路谐振时耦合裂痕宽度约在0. 3 ～ 2 mm之间。
4、结语用带状线谐振法对介质基板复介电常数中止了测试，把持样品放置前后对腔体电磁场结构的转变，本文中所选测试仪器旗帜暗号源频率准确度当作扩展不愿定度1 × 10 -8。
3.2 注重事项(1) 由于该方法采用多模测量编制，将样品放在封锁谐振腔电场最强处，如图1 所示。带状线谐振器是一段截断的带状线。在测量时，由于加工启事样品概略将凹凸不服，若要完成宽频带的测试就要选用多模测试，该压力则为正常压力。
(3) 同轴线和带状线谐振器的中央导带基础坚持在同一条直线上，中间放一个薄金属导带，提出了测试进程中应注重的事项。
1、检验考试部分1.1、测试事理 带状线是由两块相距为b 的接地板与中间宽度为W、厚度为t 的矩形截面导体带构成
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